對(duì)許多制造商而言，產(chǎn)品的耐老化和耐光性是極其重要的。加速檢測(cè)老化和光穩(wěn)定性的設(shè)備被廣泛用于研究開發(fā)、質(zhì)量、控制和材料檢定，這些檢測(cè)設(shè)備提供快速并且可重復(fù)的測(cè)試結(jié)果。近年來，低價(jià)位且使用方便的實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)設(shè)備已經(jīng)開發(fā)出來，包括ZN-P紫外老化試驗(yàn)箱符合ASTM G 154）SN型氙燈試驗(yàn)箱符合ASTM G155。
    測(cè)試抗老化和光穩(wěn)定性的*方法經(jīng)常引起爭(zhēng)論。幾年來，各種各樣的方法都被應(yīng)用過，現(xiàn)在大部分研究者使用自然曝露方法,SN氙弧燈或ZN-P紫外燈。自然曝露測(cè)試方法有很多優(yōu)點(diǎn)，實(shí)際、便宜、易于操作，然而大部分制造商不愿意等上幾年的時(shí)間來觀察一種新的改良的產(chǎn)品設(shè)計(jì)是否真的得到改進(jìn)。
 

氙弧燈老化試驗(yàn)箱和ZN-P紫外老化試驗(yàn)箱是應(yīng)用zui廣泛的加速老化檢測(cè)設(shè)備，這兩種檢測(cè)設(shè)備的測(cè)試原理*不同。氙弧燈老化試驗(yàn)箱模擬太陽光的所有光譜，包括紫外線（UV）、可見光和紅外線（IR），氙燈光譜在295 nm到800 nm范圍內(nèi)基本上與太陽光的光譜相吻合（如圖1所示）。氙弧燈老化試驗(yàn)箱被用來測(cè)試許多產(chǎn)品，這些產(chǎn)品對(duì)紫外線的長(zhǎng)波段、可見光及紅外線較敏感。
    ZN-P紫外老化試驗(yàn)箱不能模擬全光譜太陽光。它的原理是，對(duì)于曝露在室外的經(jīng)久耐用的材料，紫外線的短波段300~400 nm是引起老化損害的zui主要原因（如圖1所示）。從中可以看出，在紫外線的短波區(qū)域，即從365 nm到太陽光的zui低波段，ZN-P能很好地模擬太陽光，然而，對(duì)于長(zhǎng)一點(diǎn)的波長(zhǎng)它將無能為力。
測(cè)試的*方法依賴于測(cè)試需要，每種方法都可能非常有效。應(yīng)該根據(jù)被測(cè)產(chǎn)品或材料、zui終的應(yīng)用條件、所考慮的降解模式和預(yù)算來選擇合適的檢測(cè)設(shè)備。